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PC36C數(shù)字直流電阻測(cè)量?jī)x產(chǎn)品特點(diǎn): 1.表的主要技術(shù)性能：測(cè)量范圍、測(cè)量電流、準(zhǔn)確度、靈敏度、分辨力等滿足國(guó)家標(biāo)準(zhǔn) GB/T3048.2 《電線電纜電性能試驗(yàn)方法 第 2 部分：金屬材料電阻率試驗(yàn)》 及 GB/T3048.4 《電線電纜電性能試驗(yàn)方法 第 4 部分：導(dǎo)體直流電阻試驗(yàn)》 中對(duì)電阻測(cè)試設(shè)備的各項(xiàng)技術(shù)要求。 2.為了方便用戶操作，在儀表的附加功能中添置了 GB/T3048.2

安柏AT516L直流電阻測(cè)試儀，采用高性能 ARM 微處理器控制和高密度SMD貼裝工藝，具有 0.1%的準(zhǔn)確度和 1μΩ~30KΩ的測(cè)量范圍。電阻值以5位顯示，具有 30000 讀數(shù)，適用于繼電器接觸電阻、接插件接插電阻、導(dǎo)線電阻、印制板線路及焊孔電阻等；AT516L標(biāo)配RS232通訊接口，可方便用于PLC通訊控制實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)線上的自動(dòng)化操作。

安柏AT516 直流電阻測(cè)試儀帶PLC接口，采用高性能 ARM 微處理器控制的全自動(dòng)實(shí)時(shí)檢測(cè)的微型臺(tái)式儀器。儀器具有 0.05%的準(zhǔn)確度和 1μΩ~20MΩ的測(cè)量范圍。電阻值以 5 位顯示，具有 30000 讀數(shù)， zui高采樣速度為 7ms。儀器內(nèi)置溫度補(bǔ)償接口，用來(lái)補(bǔ)償因?yàn)闇囟人鸬恼`差。

安柏直流電阻測(cè)試儀 。可以測(cè)試1µΩ～30KΩ的電阻，zui大顯示30,000數(shù)。經(jīng)濟(jì)型，針對(duì)低電阻的電阻測(cè)試儀。為消除溫度對(duì)電阻值的影響，可選配溫度補(bǔ)償功能，適用于變壓器及電感線圈銅阻、繼電器接觸電阻、開(kāi)關(guān)、接插件接觸電阻、導(dǎo)線電阻、元件焊點(diǎn)接觸電阻、印制板線條及焊孔電阻、金屬探傷等。應(yīng)用于自動(dòng)化設(shè)備，選配RS232C通訊接口或者HANDLER接口輸出GD/NG信號(hào)，

AT511A是安柏儀器2011年根據(jù)客戶需求重新開(kāi)發(fā)的一種經(jīng)濟(jì)型高性能電阻測(cè)試儀，全新設(shè)計(jì)的操作面板，更符合客戶的操作習(xí)慣，分選設(shè)置更方便，測(cè)試電流兼容*3540。替代AT511,可以測(cè)試10µΩ～29.99kΩ的電阻，zui大顯示2,999數(shù)。 它的低測(cè)試電流,特別適合于需低功耗電阻測(cè)試的場(chǎng)合。分選功能適用于出廠檢驗(yàn)，產(chǎn)品分選。 安柏直流電阻測(cè)試儀（低電流型 ）

安柏 AT518 手持直流低電阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程，采用高性能32位ARM微處理器控制的全自動(dòng)實(shí)時(shí)檢測(cè)的微型手持式儀器，在任何場(chǎng)合可長(zhǎng)時(shí)間實(shí)現(xiàn)對(duì)無(wú)源元件進(jìn)行精確而便捷的測(cè)量 。 儀器可以測(cè)試10µΩ～20MΩ的電阻， zui大顯示數(shù)20000數(shù)。它*的電流測(cè)試模式可以適應(yīng)不同要求的測(cè)試。并配備Mini-USB通訊接口，用于遠(yuǎn)程控制和數(shù)據(jù)采集與分析。AT518采用3.5“高清lcd大屏幕顯示

安柏 AT518L 手持直流低電阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程，采用高性能32位ARM微處理器控制的便攜手持儀器，內(nèi)置大容量鋰電池在任何場(chǎng)合可長(zhǎng)時(shí)間實(shí)現(xiàn)對(duì)無(wú)源元件進(jìn)行精確而便捷的測(cè)量 。AT518L配置3.5“高清液晶顯示屏，大字體顯示更方便您讀取數(shù)據(jù)。 儀器可以測(cè)試10µΩ～200KΩ的電阻， zui大顯示數(shù)20000數(shù)。它*的電流測(cè)試模式可以適應(yīng)不同要求的測(cè)試。并配備Mini-USB通訊接口

AT5110 多路電阻測(cè)試儀是全新設(shè)計(jì)的高精度寬量程、多路電阻測(cè)試儀，可以對(duì)10路電阻進(jìn)行掃描測(cè)試。采用高性能ARM微處理器控制。真彩3.5吋液晶可同時(shí)顯示10路電阻值，并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器，AT5110可以測(cè)試1μΩ～30KΩ的電阻，zui大顯示30,000數(shù)。同時(shí)還具有標(biāo)配的溫度補(bǔ)償功能可以適應(yīng)不同要求的測(cè)試。應(yīng)用于自動(dòng)化設(shè)備，可使用RS232C及HANDLER接口輸出GD/NG信號(hào)

AT510X6 多路電阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程、超高掃描速度、采用高性能微處理器控制的多路電阻測(cè)試儀。為您量身定做的多路電阻測(cè)試儀，定制量程，從1μΩ～400KΩ，zui大顯示3999數(shù)。受益于安柏*的電阻測(cè)量技術(shù)，使得多路測(cè)試周期高達(dá)20ms/次，AT510X6 6路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)120個(gè)器件的測(cè)試。配備Handler接口，將多路測(cè)試結(jié)果同時(shí)輸出給PLC。